[发明专利]缺陷检测方法和设备在审
| 申请号： | 202110447693.9 | 申请日： | 2021-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN114092386A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 樋田祐辅 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T1/20;G06N3/04;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 陈炜;李德山 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 实施方式包括一种处理物理样本的图像以识别成像的物理样本上的缺陷的设备、方法以及计算机可读介质。该方法包括：执行对生成器神经网络的无监督训练，以生成输入图像的无缺陷重建；获取产品或材料的目标物理样本的实时图像；将实时图像输入至经训练的生成器神经网络以生成实时图像的无缺陷重建；将所生成的实时图像的无缺陷重建与所获取的实时图像进行比较以确定差异；在所确定的差异的位置处识别目标物理样本上的缺陷。其中，由叠加的缺陷图像数据引起的每个训练数据图像与相应父图像之间的差异量根据训练条件从最小值增长到最大值。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社，未经富士通株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110447693.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
