[发明专利]用于芯片设计的探测方法及探测系统、探测装置有效

专利信息
申请号: 202110417233.1 申请日: 2021-04-19
公开(公告)号: CN113125941B 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 王毓千;梁洪昌;张晓强;晋大师 申请(专利权)人: 海光信息技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 300392 天津市华苑产业区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种用于芯片设计的探测方法及探测系统、探测装置。该探测方法包括:复制芯片设计中待探测的时序路径通过的组合逻辑电路,并将该组合逻辑电路的输入端和输出端之间连接反相电路,得到被探测电路;在被探测电路中的任一连接路径上设置至少一个触发点,至少一个触发点与触发电路的输入端连接,触发电路的输出端与电压探测平台连接;向被探测电路施加测试信号,并将被探测电路响应于测试信号工作时,在至少一个触发点产生的触发信号通过对应连接的触发电路传输至电压探测平台,以通过电压探测平台获得被探测电路的电压波形。该探测方法有利于提高芯片设计的工作性能。
搜索关键词: 用于 芯片 设计 探测 方法 系统 装置
【主权项】:
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