[发明专利]一种废旧半导体储存器检测回收系统及其使用方法在审
| 申请号： | 202110408207.2 | 申请日： | 2021-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN113083861A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 路志国 | 申请（专利权）人： | 路志国 |
| 主分类号： | B09B3/00 | 分类号： | B09B3/00;B07C5/344;G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种废旧半导体储存器检测回收系统及其使用方法，包括工作台，所述工作台内设有开口朝上的回收腔，所述工作台内设有位于所述回收腔左侧的，所述工作台上设有闪存颗粒拆解机构，所述工作台上设有位于所述闪存颗粒拆解机构右侧的闪存颗粒检测筛分机构，所述闪存颗粒检测筛分机构用于检测闪存颗粒，并对能正常工作的所述闪存颗粒和损坏的所述闪存颗粒进行分类储存，所述闪存颗粒拆解机构通过加热使所述闪存颗粒与废旧手机主板脱离，本发明能自动回收检测手机上的闪存颗粒，并对闪存颗粒进行检测分类回收，自动化程度较高，处理效率较高，降低对人员依赖性，且能降低废气对人员和环境的危害程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 废旧 半导体 储存器 检测 回收 系统 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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