[发明专利]一种废旧半导体储存器检测回收系统及其使用方法

说明书

本发明公开的一种废旧半导体储存器检测回收系统及其使用方法，包括工作台，所述工作台内设有开口朝上的回收腔，所述工作台内设有位于所述回收腔左侧的，所述工作台上设有闪存颗粒拆解机构，所述工作台上设有位于所述闪存颗粒拆解机构右侧的闪存颗粒检测筛分机构，所述闪存颗粒检测筛分机构用于检测闪存颗粒，并对能正常工作的所述闪存颗粒和损坏的所述闪存颗粒进行分类储存，所述闪存颗粒拆解机构通过加热使所述闪存颗粒与废旧手机主板脱离，本发明能自动回收检测手机上的闪存颗粒，并对闪存颗粒进行检测分类回收，自动化程度较高，处理效率较高，降低对人员依赖性，且能降低废气对人员和环境的危害程度。

技术领域

本发明涉及半导体检测回收技术领域，具体为一种废旧半导体储存器检测回收系统及其使用方法。

背景技术

智能手机换代速度较快，废旧手机内部的半导体储存器（即闪存颗粒）通常未到达使用寿命，能进行回收利用，但由于闪存颗粒焊接于手机主板上，回收需要人工进行拆卸，拆卸过程需要使用热风枪对闪存颗粒进行加热，使闪存颗粒与主板焊接处熔化，拆解过程需要一定经验，之后将闪存颗粒放置到仪器上进行检测，闪存颗粒检测回收过程自动化程度低，对人工依赖性较大，且处理效率较低，加热过程产生的废气危害人员健康。

发明内容

技术问题：目前手机上的闪存颗粒检测回收过程自动化程度低，对人工依赖性较大，且处理效率较低，加热过程产生的废气危害人员健康。

为解决上述问题，本例设计了一种废旧半导体储存器检测回收系统，包括工作台，所述工作台内设有开口朝上的回收腔，所述工作台内设有位于所述回收腔左侧的，所述工作台上设有闪存颗粒拆解机构，所述工作台上设有位于所述闪存颗粒拆解机构右侧的闪存颗粒检测筛分机构，所述闪存颗粒检测筛分机构用于检测闪存颗粒，并对能正常工作的所述闪存颗粒和损坏的所述闪存颗粒进行分类储存，所述闪存颗粒拆解机构通过加热使所述闪存颗粒与废旧手机主板脱离，且能将所述闪存颗粒移动至所述闪存颗粒检测筛分机构上进行检测，所述闪存颗粒拆解机构包括固定连接于所述工作台上侧端面上的支撑板，所述支撑板前侧端面上固定连接有滑台，所述滑台下侧端面上滑动连接有平面电机，所述平面电机下侧端面上固定连接有开口朝下的滑筒一，所述滑筒一内滑动连接有升降杆一，所述升降杆一与所述滑筒一上侧内壁之间连接有拉伸弹簧一，所述升降杆一下侧端面上固定连接有拆解箱，所述拆解箱内设有开口朝下且朝右的拆解腔，所述拆解腔前侧内壁上转动连接有向后延伸的转轴三，所述转轴三上固定连接有齿轮三，所述转轴三上固定连接有位于所述齿轮三后侧的椭圆轮，所述拆解腔后侧内壁上滑动连接有两个关于所述转轴三左右对称的夹持杆，所述夹持杆与所述椭圆轮之间铰接有连杆二，所述拆解腔前侧内壁上滑动连接有位于所述齿轮三右侧的齿条二。

可优选地，所述废旧手机主板设置于所述工作台上侧端面上，所述闪存颗粒设置于所述废旧手机主板上。

可优选地，所述齿条二与所述齿轮三啮合连接，所述齿条二下侧端面上固定连接有热风枪，所述齿条二上侧端面上固定连接有横杆一，所述横杆一向右延伸至所述拆解腔端面外，所述横杆一内设有开口朝左的限位孔，所述拆解腔前侧端面上固定连接有位于所述齿轮三上侧的滑筒二，所述滑筒二开口朝右，所述滑筒二内滑动连接有限位杆，所述限位杆能延伸至所述限位孔内，所述滑筒二左侧内壁上固定连接有电磁铁，所述电磁铁与所述限位杆之间连接有压缩弹簧二，所述滑台下侧端面上固定连接有位于所述平面电机左侧的废气处理箱，所述支撑板前侧端面上固定连接有位于所述废气处理箱左下侧的气泵，所述气泵上相通连接有软管一，所述软管一上设有软管一，所述软管一与所述废气处理箱之间相通连接有软管二，所述软管二上设有真空发生器，所述真空发生器负压口与所述拆解腔相通，所述软管一与所述热风枪之间相通连接有软管三，所述拆解箱左侧和右侧端面上分别固定连接有一个从动杆。

可优选地，所述横杆一位于所述椭圆轮前侧，所述横杆一不会干涉所述椭圆轮转动。

可优选地，所述滑筒二位于所述椭圆轮前侧，所述滑筒二不会干涉所述椭圆轮转动。