[发明专利]芯片测试方法、设备与电路在审
| 申请号： | 202110384893.4 | 申请日： | 2021-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN115201655A | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 潘宜飞 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 孙宝海;袁礼君 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种芯片测试方法、设备与电路。芯片测试方法包括：响应第一类预设测试指令控制待测芯片的接地引脚连接非零电位，所述第一类预设控制指令至少包括ODT检测指令；对所述待测芯片输出与所述预设控制指令对应的控制流，检测所述待测芯片与所述预设测试指令对应的参数并输出检测结果。本发明实施例可以无需外接上拉电压而进行芯片的ODT测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 设备 电路 | ||
【主权项】：
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