[发明专利]用于检测存储器阵列层面的检测电路有效
| 申请号： | 202110338660.0 | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN113539346B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | B·A·约翰逊;V·J·万卡雅拉 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/18;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及用于检测存储器阵列的层面的检测电路。如所描述，装置可包含检测电路以检测存储器阵列的层面。所述层面可包含：耦合在逻辑高电压节点与所述检测电路之间的导电标识符；耦合到所述检测电路的控制电路。所述控制电路可执行操作，包含将测试启用信号传输到所述检测电路。所述检测电路可响应于所述测试启用信号而生成指示存在所述层面的所述导电标识符的有效信号。所述操作还可包含所述控制电路从所述检测电路接收所述有效信号，及至少部分地基于所述有效信号调整与所述存储器阵列相关联的存储器操作。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 存储器 阵列 层面 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
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