[发明专利]用于检测存储器阵列层面的检测电路

权利要求书

1.一种电子装置，其包括：

检测电路，其包括锁存电路；及

存储器阵列的层面，其中所述层面包括经配置以将逻辑高电压节点耦合到所述锁存电路的导电标识符；及

控制电路，其耦合到所述检测电路，其中所述控制电路经配置以执行包括以下项的操作：

将测试启用信号传输到所述检测电路，其中所述检测电路经配置以响应于所述测试启用信号而生成有效信号，所述测试启用信号致使所述导电标识符将所述逻辑高电压节点耦合到所述锁存电路；

从所述检测电路接收所述有效信号；及

至少部分地基于所述有效信号调整与所述存储器阵列相关联的存储器操作。

2.根据权利要求1所述的电子装置，其中所述控制电路经配置以至少部分地基于所述存储器阵列的层面的数目调整所述存储器操作，其中，从所述检测电路接收所述有效信号的所述控制电路包括接收多个有效信号的控制电路，且其中所述控制电路经配置以使用所述多个有效信号来确定所述存储器阵列的层面的所述数目。

3.根据权利要求1所述的电子装置，其中所述层面包括安置于同一平面中的多个存储器单元，其中所述多个存储器单元的子集共享至少一个字线及至少一个位线。

4.根据权利要求1所述的电子装置，其中所述控制电路经配置以响应于至少所述检测电路的通电而生成所述测试启用信号。

5.根据权利要求1所述的电子装置，其中所述检测电路包括多个反相器，其中所述多个反相器中的一对反相器经配置以存储通过将所述逻辑高电压节点耦合到所述检测电路而产生的来自所述层面的输出，且其中所述多个反相器中的第一反相器从来自所述层面的所述输出产生所述有效信号。

6.根据权利要求1所述的电子装置，其中所述检测电路包括响应于所述测试启用信号及复位信号的组合而切换输出的逻辑门，其中所述操作包括响应于所述控制电路确定复位由所述锁存电路保持的状态而生成所述复位信号。

7.根据权利要求1所述的电子装置，其中所述检测电路包括将所述锁存电路的输出耦合到所述锁存电路的输入的反馈路径，其中所述反馈路径包括第一逻辑门和反相逻辑门，其中来自所述第一逻辑门的第一输出信号是来自所述锁存电路的第二输出信号的值的反相。

8.根据权利要求7所述的电子装置，其中所述操作包括当所述反馈路径存储对应于所述有效信号的值时停用所述测试启用信号。

9.根据权利要求1所述的电子装置，其包括多个检测电路，其中所述存储器阵列包括除了所述层面外的多个层面，其中所述多个层面中的每个相应层面包括耦合在所述逻辑高电压节点与所述多个检测电路的相应检测电路之间的相应导电标识符。

10.一种用于检测存储器阵列的层面的方法，其包括：

通过控制电路将测试启用信号传输到检测电路，其中所述存储器阵列的所述层面经配置以通过导电标识符将逻辑高电压节点耦合到所述检测电路，且其中所述检测电路经配置以响应于所述测试启用信号而生成有效信号，所述测试启用信号致使所述导电标识符将所述逻辑高电压节点耦合到所述检测电路；

通过所述控制电路从所述检测电路接收所述有效信号；及

通过所述控制电路至少部分地基于所述有效信号调整与所述存储器阵列相关联的存储器操作。

11.根据权利要求10所述的方法，其中调整所述存储器操作包括：

通过所述控制电路至少部分地基于所述有效信号确定所述存储器阵列的层面的数目；及

通过所述控制电路至少部分地基于所述存储器阵列的层面的所述数目调整所述存储器操作。

12.根据权利要求11所述的方法，其中至少部分地基于所述存储器阵列的层面的所述数目调整所述存储器操作包括调整定义为所述存储器阵列的最大存储器地址的存储器地址。