[发明专利]用于检测存储器阵列层面的检测电路

说明书

本申请涉及用于检测存储器阵列的层面的检测电路。如所描述，装置可包含检测电路以检测存储器阵列的层面。所述层面可包含：耦合在逻辑高电压节点与所述检测电路之间的导电标识符；耦合到所述检测电路的控制电路。所述控制电路可执行操作，包含将测试启用信号传输到所述检测电路。所述检测电路可响应于所述测试启用信号而生成指示存在所述层面的所述导电标识符的有效信号。所述操作还可包含所述控制电路从所述检测电路接收所述有效信号，及至少部分地基于所述有效信号调整与所述存储器阵列相关联的存储器操作。

技术领域

本公开涉及存储器，且具体来说，涉及用于检测存储器阵列的层面的检测电路。

背景技术

本部分旨在向读者介绍可能与以下描述及/或要求保护的本技术的各个方面相关的技术的各个方面。相信此论述有助于向读者提供背景信息以促进对本公开的各方面的更好理解。因此，应理解，应鉴于此来阅读这些陈述，而不是作为对现有技术的认可。

一般来说，计算系统包含处理电路，例如一或多个处理器或其它合适的组件；及存储器装置，例如芯片或集成电路。一或多个存储器装置可在存储器模块，例如双列直插式存储器模块(DIMM)上使用，以存储处理电路可存取的数据。举例来说，基于到计算系统的用户输入，处理电路可请求存储器模块检索对应于来自其存储器装置的用户输入的数据。在一些例子中，检索到的数据可包含固件，或可由处理电路执行以实施操作的指令，及/或可包含将用作所述操作的输入的数据。另外，在一些情况下，从所述操作输出的数据可存储在存储器中，例如使得后续能够从所述存储器检索所述数据。

存储器装置中的一些包含可通过打开晶体管而存取的存储器单元，所述晶体管将存储器单元(例如，电容器)与字线或位线耦合。相反，阈值类型的存储器装置包含通过跨越存储器单元提供电压而存取的存储器装置，其中基于存储器单元的阈值电压存储数据值。举例来说，数据值可基于是否超过存储器单元的阈值电压，并且响应于跨越存储器单元提供的电压，存储器单元传导电流。可例如通过施加足以改变存储器单元的阈值电压的电压来改变所存储的数据值。阈值类型存储器单元的一个实例可为交叉点存储器单元。

对于阈值类型的存储器，字线及位线用于将选择信号传输到相应的存储器单元。选择信号可包含通过用于将数据保存到存储器单元中或从存储器单元检索数据的电压电平表征的信号。字线及位线可通过解码电路(例如，解码器)耦合到选择信号源。可将存储器单元组织成存储器单元的一或多个层，例如限定在重叠的字线及位线之间的层。这些层可称为层面(例如，存储器层面)。可参考字线、位线及/或解码器的各种组合以用于使用地址(例如，存储器地址)的特定存储器操作。地址可指示将使用来自字线、位线及/或解码器的信号的组合来选择哪一存储器单元，且地址的特定值可基于存储器装置的地址范围。最大地址(例如，地址的上限)可基于形成于单个层面中的存储器单元的数量及存储器阵列包含的层面的数量。当制造存储器装置时，可在同一生产线生产具有不同数目的层面的各种存储器阵列。由于相应存储器阵列的层面的数目用于确定存储器装置的最大地址，因此可需要改进层面的数目的确定(例如，改进确定的一致性)的方法。

发明内容

本公开的方面提供一种装置，其中所述装置包括：检测电路，其包括锁存电路；及存储器阵列的层面，其中所述层面包括被布置成耦合在逻辑高电压节点与所述锁存电路之间的导电标识符；及控制电路，其耦合到所述检测电路，其中所述控制电路经配置以执行包括以下项的操作：将测试启用信号传输到所述检测电路，其中所述检测电路经配置以响应于所述测试启用信号而生成指示存在所述层面的所述导电标识符的有效信号；从所述锁存电路接收所述有效信号；及至少部分地基于所述有效信号调整与所述存储器阵列相关联的存储器操作。

本公开的另一方面提供一种方法，其中所述方法包括：通过控制电路将测试启用信号传输到检测电路，其中所述检测电路经配置以响应于所述测试启用信号而生成指示存在存储器阵列的层面的有效信号，其中所述层面包括耦合在逻辑高电压节点与所述检测电路之间的导电标识符；通过所述控制电路从所述检测电路接收所述有效信号；及通过所述控制电路至少部分地基于所述有效信号调整与所述存储器阵列相关联的存储器操作。