[发明专利]一种基于去噪卷积自编码器的缺陷检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110337849.8 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN113129272A 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 胡战虎;黄天仑;陈再励;李新旺;吴亮生;卢杏坚;何峰 申请(专利权)人: 广东省科学院智能制造研究所
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G01N21/88
代理公司: 广东广盈专利商标事务所(普通合伙) 44339 代理人: 李俊
地址: 510070 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于去噪卷积自编码器的缺陷检测方法及装置,其中,所述方法包括:基于构建的多视点实时图像采集装置实时采集待缺陷识别目标的待缺陷识别图像数据;将所述待识别图像数据输入训练收敛的去噪卷积自编码器中进行重建修复处理,输出重建修复图像数据;基于结构相似性计算所述待缺陷识别图像数据和重建修复图像数据之间的重建误差,获得重建误差值;基于所述重建误差值判断所述带缺陷识别图像数据是否存在缺陷。在本发明实施例中,可以实现自动识别图像数据是否存在缺陷,从而判断产品是否存在缺陷,并且识别准确性高。
搜索关键词: 一种 基于 卷积 编码器 缺陷 检测 方法 装置
【主权项】:
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