[发明专利]一种基于硅通孔的射频垂直互连传输结构在审

专利信息
申请号: 202110330168.9 申请日: 2021-03-29
公开(公告)号: CN113097183A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 王韬;费井汉;张万里 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L23/66 分类号: H01L23/66
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 闫树平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于高密封装技术领域,具体为一种基于硅通孔的射频垂直互连传输结构。本发明结构通过信号传输装置、设置在上层转接板的TSV准同轴结构、下层转接板的TSV准同轴结构、以及BGA焊球完成信号传输,实现垂直互连。由于信号在传输过程中,转接板TSV(硅通孔)上的电流在上、下两层转接板之间会激励起径向波,该径向波会与TSV(硅通孔)中传输的TEM波相互耦合,影响其应用范围;因此在信号传输装置两侧各设有的一列等距离排列的TSV铜柱以减小信号在传输过程中出现的电磁干扰,进一步拓宽使用频率范围。与现有技术相比,本发明结构能够在0‑40Ghz的频率范围实现良好的三维连接;其结构简单、成本低。
搜索关键词: 一种 基于 硅通孔 射频 垂直 互连 传输 结构
【主权项】:
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