[发明专利]远距离多ATE半导体测试设备同步方法、系统及测试方法在审
| 申请号： | 202110328086.0 | 申请日： | 2021-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN113078978A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 陈永;邬刚 | 申请（专利权）人： | 杭州加速科技有限公司 |
| 主分类号： | H04J3/06 | 分类号： | H04J3/06;H04L7/033 |
| 代理公司： | 深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486 | 代理人： | 李兴生 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市余杭区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出一种远距离多ATE半导体测试设备同步方法、系统及测试方法，同步方法包括：时钟发送装置通过高速光纤发送嵌入了时钟信号的时钟编码信号给多个测试设备；测试设备接收时钟编码信号恢复出时钟，并根据时钟调整系统调整测试设备的时钟至与时钟发送装置的时钟一致；时钟发送装置通过高速光纤发送嵌入了触发信号的触发编码信号给多个测试设备；测试设备接收并通过高速光纤将触发编码信号返还给时钟发送装置；时钟发送装置根据接收触发编码信号的时间差，调整发送触发编码信号的时间点。本发明利用25Gbps高速光纤传输信号，实现高精度远距离多台半导体测试设备之间的同步时钟和同步触发目标，具有同步距离远、成本低、精度高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 远距离 ate 半导体 测试 设备 同步 方法 系统 | ||
【主权项】：
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