[发明专利]芯片的测试系统及其测试方法在审
| 申请号： | 202110322024.9 | 申请日： | 2021-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN115128429A | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 曾泉 | 申请（专利权）人： | 天芯互联科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 黎坚怡 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种芯片的测试系统和芯片的测试方法，该测试系统包括：控制电路，控制电路与上位机耦接，并在测试时与被测单元耦接，用于接收上位机的所述指令，根据指令控制被测单元执行对应操作；多路载板，与控制电路耦接，用于插设多个被测单元，多个被测单元根据指令执行对应操作得到测试数据，并将测试数据输出给控制电路。本申请的测试系统通过设置多路载板，具有较强的拓展性，可以测试不同的芯片，同时，通过运算比较，将测试数据与理论数据的对比，得到的测试结果更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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