[发明专利]芯片的测试系统及其测试方法

说明书

本申请公开了一种芯片的测试系统和芯片的测试方法，该测试系统包括：控制电路，控制电路与上位机耦接，并在测试时与被测单元耦接，用于接收上位机的所述指令，根据指令控制被测单元执行对应操作；多路载板，与控制电路耦接，用于插设多个被测单元，多个被测单元根据指令执行对应操作得到测试数据，并将测试数据输出给控制电路。本申请的测试系统通过设置多路载板，具有较强的拓展性，可以测试不同的芯片，同时，通过运算比较，将测试数据与理论数据的对比，得到的测试结果更加准确。

技术领域

本申请涉及半导体芯片测试领域，特别是涉及一种芯片的测试系统及其测试方法。

背景技术

现有的芯片复杂度越来越高，为了保证出厂的芯片没有问题，需要在出厂前进行测试以确保功能完整性，而芯片作为一个大规模生产的东西，大规模自动化测试是唯一的解决办法。其中，大规模自动化测试通常针对一种芯片的单一功能进行测试，例如，芯片的老化测试或功能测试，自动化测试不能对不同的芯片进行不同的测试。

发明内容

本申请提供一种芯片的测试系统及其测试方法，解决了现有大规模自动化测试时，只能对一种芯片的一种功能进行测试的问题。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种芯片的测试系统，该测试系统包括：上位机，所述上位机用于设置和发送指令，存储测试结果；控制电路，所述控制电路与所述上位机耦接，并在测试时与被测单元耦接，用于接收所述上位机的所述指令，根据所述指令控制所述被测单元执行对应操作；多路载板，与所述控制电路耦接，用于插设多个被测单元，所述多个被测单元根据所述指令执行对应操作得到测试数据，并将所述测试数据输出给所述控制电路。

其中，控制电路包括通信单元和数据处理单元，通信单元于数据处理单元耦接，通信单元与上位机耦接，接收上位机的指令，并将指令传输给数据处理单元进行处理。

其中，通信单元包括相互耦接的以太网接口、通信转换器和第一总线接口，以太网接口与上位机耦接，接收上位机的指令，通信转换器将接收的指令进行转换，第一总线接口将转换后的指令传输给数据处理单元。

其中，数据处理单元包括相互耦接的第二总线接口、控制器和存储单元，第二总线接口与通信单元耦接，将通信单元接收的指令传输给控制器，并由控制器进行中转处理得到理论数据，并将理论数据传输给存储单元进行存储。

其中，数据处理单元还包括数据录入单元、输入/输出单元，数据录入单元于控制器和输入/输出单元耦接，数据录入单元接收控制器的指令经输入/输出单元传输给多路载板，多路载板根据指令控制被测单元执行对应操作得到测试数据，并将测试数据通过输入/输出单元传输给控制器。

其中，数据处理单元还包括输出分析单元，输出分析单元于控制器耦接，接收控制器从存储单元和多路载板传输的理论结构和测试数据，并对理论结构和测试数据进行分析比较，得到测试数据，将测试数据经控制器和通信单元传输给上位机进行存储。

为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种芯片的测试方法，该芯片的测试方法包括：接收上位机发送的指令，对指令进行中转处理并得到理论数据；根据指令控制多个被测单元进行执行对应操作得到测试数据；获取理论数据与所述测试数据，并对理论数据和测试数据进行分析比较，得到测试结果以判断多个被测单元是否正常；将测试结果发送给上位机进行存储。

其中，接收上位机发送的指令，对指令进行中转处理并得到理论数据包括：存储理论数据。

其中，得到测试数据以判断多个被测单元是否正常包括：若被测单元不正常，将测试数据反馈给上位机并进行记录。

其中，接收上位机发送的指令，根据指令进行中转处理并得到理论数据之前包括：设置测试参数，根据测试参数发送所述指令。