[发明专利]芯片的测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：

上位机，所述上位机用于设置和发送指令，存储测试结果；

控制电路，所述控制电路与所述上位机耦接，并在测试时与被测单元耦接，用于接收所述上位机的所述指令，根据所述指令控制所述被测单元执行对应操作；

多路载板，与所述控制电路耦接，用于插设多个被测单元，所述多个被测单元根据所述指令执行对应操作得到测试数据，并将所述测试数据输出给所述控制电路。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述控制电路包括通信单元和数据处理单元，所述通信单元于所述数据处理单元耦接，所述通信单元与所述上位机耦接，接收所述上位机的指令，并将所述指令传输给所述数据处理单元进行处理。

3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述通信单元包括相互耦接的以太网接口、通信转换器和第一总线接口，所述以太网接口与所述上位机耦接，接收所述上位机的指令，所述通信转换器将接收的所述指令进行转换，所述第一总线接口将所述转换后的所述指令传输给所述数据处理单元。

4.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述数据处理单元包括相互耦接的第二总线接口、控制器和存储单元，所述第二总线接口与所述通信单元耦接，将所述通信单元接收的所述指令传输给所述控制器，并由所述控制器进行中转处理得到理论数据，并将所述理论数据传输给所述存储单元进行存储。

5.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述数据处理单元还包括数据录入单元和输入/输出单元，所述数据录入单元与所述控制器和输入/输出单元耦接，所述数据录入单元接收所述控制器的指令经所述输入/输出单元传输给所述多路载板，所述多路载板根据所述指令控制被测单元执行对应操作得到测试数据，并将所述测试数据通过所述输入/输出单元传输给所述控制器。

6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述数据处理单元还包括输出分析单元，所述输出分析单元于所述控制器耦接，接收所述控制器从所述存储单元和多路载板传输的所述理论结构和所述测试数据，并对所述理论结构和测试数据进行分析比较，得到所述测试数据，将所述测试数据经所述控制器和通信单元传输给所述上位机进行存储。

7.一种芯片的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

接收上位机发送的指令，对所述指令进行中转处理并得到理论数据；

根据所述指令控制多个被测单元进行执行对应操作得到测试数据；

获取所述理论数据与所述测试数据，并对所述理论数据和所述测试数据进行分析比较，得到所述测试结果以判断多个所述被测单元是否正常；

将所述测试结果发送给所述上位机进行存储。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，

所述接收上位机发送的指令，对所述指令进行中转处理并得到理论数据包括：

存储所述理论数据。

9.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，

所述得到所述测试数据以判断多个所述被测单元是否正常包括：

若所述被测单元不正常，将所述测试数据反馈给所述上位机并进行记录。

10.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，

所述接收上位机发送的指令，根据所述指令进行中转处理并得到理论数据之前包括：

设置测试参数，根据所述测试参数发送所述指令。