[发明专利]一种面板缺陷检查方法、系统、终端设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110314034.8 | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN113012137B | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 黄雪思;何承洁;曲斯瑞;余思慧 | 申请（专利权）人： | 滁州惠科光电科技有限公司;惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/155;G06T5/00 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 曹小翠 |
| 地址： | 239000 安徽省滁*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请适用于缺陷检查技术领域，提供了一种面板缺陷检查方法、系统、终端设备及存储介质。本申请实施例中获取目标面板的面板图片，根据所述目标面板的型号对所述面板图片进行截取操作；根据预设的图像处理方法对截取后的面板图片进行判定，得到所述目标面板的判定结果；当所述判定结果中存在破片部分时，对所述目标面板进行拦截操作，以使检查人员对所述目标面板进行复判，从而提高了对存在缺陷面板的检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面板 缺陷 检查 方法 系统 终端设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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