[发明专利]存储器件修复方法及系统在审
| 申请号： | 202110295405.2 | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN115116531A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 张良 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 郭凤杰 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种存储器件修复方法及系统。其中，存储器件修复方法，包括：对存储器件的存储单元进行错误检测；将检测到的错误单元的单元地址暂存至寄存器，直至检测到的错误单元的数量达到第一预设数量，错误单元为已损坏的存储单元，一个错误单元占用一个寄存器，单元地址包括行地址；在各个寄存器中依次选择目标寄存器；判断目标寄存器中的行地址是否存在于参考存储模块中，参考存储模块中存储有已经修复过的行地址或者未被修复过的行地址；根据判断结果，对未经过行地址修复的错误单元进行修复。本申请可以有效防止不同的错误单元同时出现在同一个存储区域的同一根字线上而导致的修复失败。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 器件 修复 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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