[发明专利]存储器件修复方法及系统

说明书

本发明涉及一种存储器件修复方法及系统。其中，存储器件修复方法，包括：对存储器件的存储单元进行错误检测；将检测到的错误单元的单元地址暂存至寄存器，直至检测到的错误单元的数量达到第一预设数量，错误单元为已损坏的存储单元，一个错误单元占用一个寄存器，单元地址包括行地址；在各个寄存器中依次选择目标寄存器；判断目标寄存器中的行地址是否存在于参考存储模块中，参考存储模块中存储有已经修复过的行地址或者未被修复过的行地址；根据判断结果，对未经过行地址修复的错误单元进行修复。本申请可以有效防止不同的错误单元同时出现在同一个存储区域的同一根字线上而导致的修复失败。

技术领域

本申请涉及半导体技术领域，特别是涉及一种存储器件修复方法及系统。

背景技术

在存储器件的修复中，为了提高检测效率，往往会在存储几个错误单元的单元地址之后，对存储的几个错误单元统一进行修复。这样，在进行修复的时候，可以一次性修复几个错误单元，进而提高了维修效率。

但是，在实际修复过程中，运用该种修复方式会存在修复失败现象。

发明内容

基于此，有必要针对存储器件的修复中的修复失败问题提供一种存储器件修复方法及装置。

一种存储器件修复方法，包括：

对所述存储器件的存储单元进行错误检测；

将检测到的错误单元的单元地址暂存至寄存器，直至检测到的错误单元的数量达到第一预设数量，所述错误单元为已损坏的存储单元，一个所述错误单元占用一个所述寄存器，所述单元地址包括行地址；

在各个所述寄存器中依次选择目标寄存器；

判断所述目标寄存器中的行地址是否存在于参考存储模块中，所述参考存储模块中存储有已经修复过的行地址或者未被修复过的行地址；

根据所述判断结果，对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复。

在其中一个实施例中，所述参考存储模块中存储有已经修复过的行地址，所述根据所述判断结果，对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复，包括：

如果所述目标寄存器中的行地址存在于所述参考存储模块中，则跳过对所述目标寄存器对应的所述错误单元的修复。

在其中一个实施例中，所述根据所述判断结果，对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复，还包括：

如果目标寄存器中的行地址未存在于所述参考存储模块中，则对所述目标寄存器对应的所述错误单元进行修复。

在其中一个实施例中，

所述存储器件包括行修复单元，所述行修复单元包括第二预设数量的行修复熔丝，一个所述行修复熔丝对应一个冗余行地址；

所述如果目标寄存器中的行地址未存在于所述参考存储模块中，则对所述目标寄存器对应的所述错误单元进行修复，包括：

将所述目标寄存器中的行地址存储至所述行修复单元的一个空白行修复熔丝。

在其中一个实施例中，所述参考存储模块包括所述行修复单元。

在其中一个实施例中，所述根据所述判断结果，对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复之后，还包括：

清空所述目标寄存器。

在其中一个实施例中，所述根据所述判断结果，对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复之后，还包括：

当所有寄存器中的行地址均完成修复之后，清空所有寄存器。

在其中一个实施例中，所述存储器件修复方法应用于对至少两个所述错误单元出现在同一个字线上的存储器件进行修复。