[发明专利]存储器件修复方法及系统在审
| 申请号: | 202110295405.2 | 申请日: | 2021-03-19 |
| 公开(公告)号: | CN115116531A | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
| 发明(设计)人: | 张良 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号: | G11C29/44 | 分类号: | G11C29/44 |
| 代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 郭凤杰 |
| 地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 存储 器件 修复 方法 系统 | ||
1.一种存储器件修复方法,其特征在于,包括:
对所述存储器件的存储单元进行错误检测;
将检测到的错误单元的单元地址暂存至寄存器,直至检测到的所述错误单元的数量达到第一预设数量,所述错误单元为已损坏的存储单元,一个所述错误单元占用一个所述寄存器,所述单元地址包括行地址;
在各个所述寄存器中依次选择目标寄存器;
判断所述目标寄存器中的行地址是否存在于参考存储模块中,所述参考存储模块中存储有已经修复过的行地址或者未被修复过的行地址;
根据所述判断结果,对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复。
2.根据权利要求1所述的存储器件修复方法,其特征在于,所述参考存储模块中存储有已经修复过的行地址,所述根据所述判断结果,对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复,包括:
如果所述目标寄存器中的行地址存在于所述参考存储模块中,则跳过对所述目标寄存器对应的所述错误单元的修复。
3.根据权利要求2所述的存储器件修复方法,其特征在于,所述根据所述判断结果,对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复,还包括:
如果目标寄存器中的行地址未存在于所述参考存储模块中,则对所述目标寄存器对应的所述错误单元进行修复。
4.根据权利要求3所述的存储器件修复方法,其特征在于,
所述存储器件包括行修复单元,所述行修复单元包括第二预设数量的行修复熔丝,一个所述行修复熔丝对应一个冗余行地址;
所述如果目标寄存器中的行地址未存在于所述参考存储模块中,则对所述目标寄存器对应的所述错误单元进行修复,包括:
将所述目标寄存器中的行地址存储至所述行修复单元的一个空白行修复熔丝。
5.根据权利要求4所述的存储器件修复方法,其特征在于,所述参考存储模块包括所述行修复单元。
6.根据权利要求1所述的存储器件修复方法,其特征在于,所述根据所述判断结果,对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复之后,还包括:
清空所述目标寄存器。
7.根据权利要求1所述的存储器件修复方法,其特征在于,所述根据所述判断结果,对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复之后,还包括:
当所有寄存器中的行地址均完成修复之后,清空所有寄存器。
8.根据权利要求1所述的存储器件修复方法,其特征在于,所述存储器件修复方法应用于对至少两个所述错误单元出现在同一个字线上的存储器件进行修复。
9.一种存储器件修复系统,其特征在于,包括:
检测模块,用于对所述存储器件的存储单元进行错误检测,且输出所述错误单元的单元地址,所述错误单元为已损坏的存储单元;
寄存模块,电连接所述检测模块,包括数量不少于第一预设数量的寄存器,各所述寄存器用于接收所述错误单元的单元地址,且输出所述错误单元的行地址,一个所述错误单元占用一个所述寄存器,所述单元地址包括行地址;
控制模块,电连接各个所述寄存器,用于当所述检测模块检测到的错误单元的数量达到第一预设数量时,在各个所述寄存器中依次选择目标寄存器;
参考存储模块,用于存储以及输出已经修复过的行地址或者未被修复过的行地址;
第一判断模块,电连接所述参考存储模块与所述寄存模块,用于接收所述目标寄存器输出的行地址以及所述参考存储模块输出的行地址,且判断所述目标寄存器中的行地址是否存在于所述参考存储模块中,并输出判断结果;
修复模块,电连接所述第一判断模块,用于根据所述判断结果,对未经过行地址修复的所述错误单元进行修复。
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