[发明专利]半导体测试监控方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110288480.6 | 申请日： | 2021-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN112964974A | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 彭建国;吴能;石岩 | 申请（专利权）人： | 嘉盛半导体（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京超成律师事务所 11646 | 代理人： | 孔默 |
| 地址： | 215027 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种半导体测试监控方法、装置、设备及存储介质，所述半导体测试监控方法包括：获取测试机的状态数据和被测物品信息；在预设的数据库中，读取对应于所述被测物品信息的参数配置规则；判断所述状态数据是否符合所述参数配置规则；当所述状态数据不符合所述参数配置规则时，向所述测试机发送停机指令和报警指令。本申请实现了及时发现测试机的异常，提高测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 监控 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于嘉盛半导体（苏州）有限公司，未经嘉盛半导体（苏州）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110288480.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
