[发明专利]半导体测试监控方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请实施例提供一种半导体测试监控方法、装置、设备及存储介质，所述半导体测试监控方法包括：获取测试机的状态数据和被测物品信息；在预设的数据库中，读取对应于所述被测物品信息的参数配置规则；判断所述状态数据是否符合所述参数配置规则；当所述状态数据不符合所述参数配置规则时，向所述测试机发送停机指令和报警指令。本申请实现了及时发现测试机的异常，提高测试结果的准确性。

技术领域

本申请涉及半导体技术领域，具体而言，涉及一种半导体测试监控方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

近年来，随着半导体技术的不断发展，集成电路被广泛应用于信息技术、电子产品、通信等多个领域，极大地推动了科学技术的进步和社会经济的发展。目前，在集成电路的生产过程中，需要对完成封装后的集成电路进行功能及外观的测试，以保证最终产品的质量，测试一般由测试机进行，不同产品具有不同的质量要求，对应不同的检测项目或测试参数。现有技术中，测试机存在测试内容被人为误修改或故障等情况，如果没有及时发现，会导致测试结果异常，并影响产品质量。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种半导体测试监控方法、装置、设备及存储介质，用以实现及时发现测试机的异常，提高测试结果的准确性。

本申请实施例第一方面提供了一种半导体测试监控方法，包括：获取测试机的状态数据和被测物品信息；在预设的数据库中，读取对应于所述被测物品信息的参数配置规则；判断所述状态数据是否符合所述参数配置规则；当所述状态数据不符合所述参数配置规则时，向所述测试机发送停机指令和报警指令。

于一实施例中，所述获取测试机的状态数据和被测物品信息，包括：在所述测试机开始测试时，获取测试机的状态数据和被测物品信息。

于一实施例中，所述获取测试机的状态数据和被测物品信息，包括：在所述测试机开始测试之后，每隔预设时长，获取测试机的状态数据和被测物品信息。

于一实施例中，在所述当所述状态数据不符合所述参数配置规则时，向所述测试机发送停机指令和报警指令之后，还包括：生成报警信息，所述报警信息包括异常状态信息和异常原因；接收用户根据所述报警信息输入的处理反馈信息；根据所述处理反馈信息，向所述测试机发送解除报警指令。

本申请实施例第二方面提供了一种半导体测试监控装置，包括：获取模块，用于获取测试机的状态数据和被测物品信息；读取模块，用于在预设的数据库中，读取对应于所述被测物品信息的参数配置规则；判断模块，用于判断所述状态数据是否符合所述参数配置规则；第一发送模块，用于当所述状态数据不符合所述参数配置规则时，向所述测试机发送停机指令和报警指令。

于一实施例中，所述获取模块用于：在所述测试机开始测试时，获取测试机的状态数据和被测物品信息。

于一实施例中，所述获取模块用于：在所述测试机开始测试之后，每隔预设时长，获取测试机的状态数据和被测物品信息。

于一实施例中，还包括：生成模块，用于生成报警信息，所述报警信息包括异常状态信息和异常原因；接收模块，用于接收用户根据所述报警信息输入的处理反馈信息；第二发送模块，用于根据所述处理反馈信息，向所述测试机发送解除报警指令。

本申请实施例第三方面提供了一种电子设备，包括：存储器，用以存储计算机程序；处理器，用以执行本申请实施例第一方面及其任一实施例的方法。

本申请实施例第四方面提供了一种非暂态电子设备可读存储介质，包括：程序，当其藉由电子设备运行时，使得所述电子设备执行本申请实施例第一方面及其任一实施例的方法。