[发明专利]测量阵列天线的相位一致性补偿值的方法和系统

摘要

本申请涉及一种测量阵列天线的相位一致性补偿值的方法和系统，该方法包括：将待测阵列天线定位到期望测量位置，该期望测量位置包括第一测量位置，该第一测量位置指示待测阵列天线的第一辐射面与源天线的第二辐射面平行并且第一辐射面的第一物理中心与所述第二辐射面的第二物理中心对准的位置；以及基于待测阵列天线中的每一天线阵元从源天线接收到的测试信号，确定每一天线阵元在期望测量位置的相位一致性补偿值。通过本申请所述的方法和系统，使得可以准确地测量出阵列天线中的不同天线阵元在不同角度的相位一致性补偿值，进而使得可以提高通信定位系统的精度。