[发明专利]测量阵列天线的相位一致性补偿值的方法和系统在审
申请号: | 202110285649.2 | 申请日: | 2021-03-17 |
公开(公告)号: | CN113204035A | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 李艳;徐海鹏;齐望东;潘孟冠;徐佳 | 申请(专利权)人: | 网络通信与安全紫金山实验室 |
主分类号: | G01S19/23 | 分类号: | G01S19/23;G01R29/10 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 罗婷婷 |
地址: | 211111 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 阵列 天线 相位 一致性 补偿 方法 系统 | ||
1.一种用于测量阵列天线的相位一致性补偿值的方法,其特征在于,所述方法包括:
将待测阵列天线定位到期望测量位置,所述期望测量位置包括第一测量位置,所述第一测量位置指示所述待测阵列天线的第一辐射面与源天线的第二辐射面平行并且第一辐射面的第一物理中心与所述第二辐射面的第二物理中心对准的位置;以及
基于所述待测阵列天线中的每一天线阵元从所述源天线接收到的测试信号,确定每一天线阵元在所述期望测量位置的相位一致性补偿值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一辐射面为所述待测阵列天线的水平辐射面或所述待测阵列天线的垂直辐射面。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述期望测量位置还包括第二测量位置,所述第二测量位置指示所述待测阵列天线绕所述第一物理中心从所述第一测量位置逆时针转动了特定水平面角度的位置。
4.根据权利要求1或3所述的方法,其特征在于,基于所述待测阵列天线中的每一天线阵元从所述源天线接收到的测试信号,确定每一天线阵元在所述期望测量位置的相位一致性补偿值包括:
获取每一天线阵元接收到的测试信号的相位,作为每一天线阵元的测量相位;
计算每一天线阵元由信号传输路径引起的相位偏差,每一天线阵元的信号传输路径为所述天线阵元与所述源天线之间的信号传输路径;
基于每一天线阵元的测量相位以及所述天线阵元由信号传输路径引起的相位偏差,获得所述天线阵元的实际相位;以及
基于每一天线阵元的实际相位,获得所述天线阵元的相位一致性补偿值。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,计算每一天线阵元由信号传输路径引起的相位偏差包括:
基于所述测试信号的频率、所述待测阵列天线与所述源天线之间的距离、天线阵元间距、以及所述待测阵列天线的水平面角度,计算每一天线阵元由信号传输路径引起的相位偏差。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于每一天线阵元的实际相位,获得所述天线阵元的相位一致性补偿值包括:
计算各天线阵元的实际相位与第一天线阵元的实际相位之间的差值,并将所述差值取反,从而得到各天线阵元相对所述第一天线阵元的相位一致性补偿值。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述源天线为喇叭天线,并且所述第二辐射面的物理中心为所述喇叭天线的物理中心。
8.一种用于测量阵列天线的相位一致性补偿值的系统,其特征在于,所述系统包括待测阵列天线、源天线、定位装置和测量控制装置,所述待测阵列天线、所述源天线和所述定位装置均与所述测量可控制装置连接,
其中,所述源天线被配置成在所述测量控制装置的控制下,向所述待测阵列天线发送测试信号;
所述定位装置被配置成在测量控制装置的控制下,将所述待测阵列天线定位到期望测量位置;
所述测量控制装置被配置成执行根据权利要求1-7中的任一项所述的方法。
9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述系统还包括微波暗室,其中所述待测阵列天线、所述源天线和所述定位装置均放置在所述微波暗室内,并且所述测量控制装置放置在所述微波暗室外。
10.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述定位装置包括转台,其中所述待测阵列天线放置在所述转台上,并且所述转台被配置成在所述测量控制装置的控制下将待测阵列天线转动到期望的水平面角度。
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