[发明专利]一种沉积掺杂晶硅薄膜后真空腔体的清洁方法有效

专利信息
申请号: 202110282291.8 申请日: 2021-03-16
公开(公告)号: CN113053718B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 刘奇尧;上官泉元 申请(专利权)人: 江苏杰太光电技术有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 代理人: 吴倩
地址: 225500 江苏省泰州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种沉积掺杂晶硅薄膜后真空腔体的清洁方法,包括如下步骤:S1.切断镀膜工艺后,将清洁用氧气通入到真空腔体中,压强为0.10‑100pa;S2.向腔体内供电;S3.停止供电、供氧;S4.将腔体回填氮气,腔体内压强为1×104pa,并抽出腔体内气体至压强至5pa以下;S5.重复执行步骤S4;S6.将真空腔体回填至大气状态。本发明利用氧等离子体清洁真空腔体在沉积掺杂晶硅薄膜后所产生的含磷或含硼的副产物以及部分未完全分解的磷烷、硼烷,整个清洁流程仅需30min,显著缩短了开腔等待时间;氮气消耗量较常规手段降低了90%;相关残留物浓度可降至100PPB,较常规物理去除法残留物浓度降低了80%。
搜索关键词: 一种 沉积 掺杂 薄膜 空腔 清洁 方法
【主权项】:
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