[发明专利]用于超高电压的半导体器件及其制造方法在审
申请号: | 202110275845.1 | 申请日: | 2021-03-15 |
公开(公告)号: | CN114267714A | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 邱奕正;林天声;林宏洲;陈益民;钟久华 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/78 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 顾伯兴 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种制造半导体器件的方法可包括:提供超高电压(UHV)组件,所述超高电压组件包括源极区及漏极区;以及在UHV组件的顶表面上形成氧化物层。所述方法可包括:将低电压端子连接到UHV组件的源极区;以及将高电压端子连接到UHV组件的漏极区。所述方法可包括:在设置在UHV组件的漏极区上方的氧化物层的表面上形成屏蔽结构;形成连接到屏蔽结构且连接到高电压端子的高电压内连线;以及形成连接屏蔽结构与低电压端子的金属布线。 | ||
搜索关键词: | 用于 超高 电压 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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