[发明专利]一种阵列基板的测试装置及其测试方法在审
| 申请号： | 202110231180.4 | 申请日： | 2021-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN112987352A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 李维 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 远明 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种阵列基板的测试装置及其测试方法，该测试装置的测试垫位于同一测试区中的两排阵列基板的相背两侧，且与阵列基板对应且电性连接，检测模块包括液晶层和位于液晶层上的光电传感器，液晶层用于测试阵列基板的电场，光电传感器用于采集和评估液晶层出射光线的强度；本发明中的同一测试区内的两排阵列基板之间没有设置测试垫，避免测试垫与光学检测模块的信号容易发生干涉的现象，对同一测试区内的所有测试垫同时通入驱动信号，一次性检测两排阵列基板的电场和出射光线的强度，能大幅改善中小尺寸阵列基板的测试时间，能节省移动设备的移动和校准次数，还能提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110231180.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种限制移动直到预热处理完毕的节能环保焊接装置
- 下一篇：智能马桶连通器
