[发明专利]一种阵列基板的测试装置及其测试方法

说明书

本发明提供了一种阵列基板的测试装置及其测试方法，该测试装置的测试垫位于同一测试区中的两排阵列基板的相背两侧，且与阵列基板对应且电性连接，检测模块包括液晶层和位于液晶层上的光电传感器，液晶层用于测试阵列基板的电场，光电传感器用于采集和评估液晶层出射光线的强度；本发明中的同一测试区内的两排阵列基板之间没有设置测试垫，避免测试垫与光学检测模块的信号容易发生干涉的现象，对同一测试区内的所有测试垫同时通入驱动信号，一次性检测两排阵列基板的电场和出射光线的强度，能大幅改善中小尺寸阵列基板的测试时间，能节省移动设备的移动和校准次数，还能提高检测效率。

技术领域

本发明涉及显示面板测试技术领域，特别涉及一种阵列基板的测试装置及其测试方法。

背景技术

显示面板的制备包括阵列基板工序、彩膜基板工序以及阵列基板与彩膜基板的液晶层工序。一般通过检测面板在阵列基板、彩膜基板、成盒这三个工序中出现的不良，把不良产品取出，需要及时修正或重新生产，尤其是阵列基板最容易出现缺陷或问题，一旦阵列基板的驱动电路传输出现问题，将会影响整个显示面板的出光品质。

目前实际生产中，阵列基板母版生产完成后，切割成多个待检测阵列基板，将待检测阵列基板放置在机台上，采用人工点灯测试和自动点灯测试像素发光的亮度，在测试的过程中，需要频繁大幅移动点灯模组和测试探头位置，并重新矫正机械坐标，需要的时间较长，测试效率较低。如图1至图2所示，现有技术中的测试装置包括基台101、输入模块102和光学检测模块103，输入模块102包括功能信号线1022和信号发射器1021，光学检测模块103包括液晶层1031和位于液晶层1031上的光电传感器1032。基台101上阵列设置有待检测阵列基板和与待检测阵列基板电性连接的测试垫，光学检测模块103活动地设置在阵列基板表面，用于检测阵列基板的出光性能。测试垫1011-1014分别位于第一至第四排待检测阵列基板(01-08)的同一侧，每次只能检测一排待检测阵列基板，检测效率较低。如图3所示，每个待检测阵列基板都分成若干份区域进行测试，当测试阵列基板边缘时，光学检测模块103使用效率低，大概30％左右，对65寸阵列基板进行测试时，光学检测模块103反复移位，需要移动和矫正至少4次，另外测试43寸阵列基板，光学检测模块103移动和矫正需要6次，每次花费时间5s左右，另外在边缘时光学检测模块103与测试垫1012的信号容易发生干涉的问题。

因此，用于测试阵列基板的常规方法通过使用测试垫将电信号施加至阵列基板上，采用液晶层判断出光情况，来确定待检测阵列基板是否欠佳，若待检测阵列基板的像素被点亮，采用光电传感器对待检测阵列基板光学性能进行测试，每次仅能测试一排待检测阵列基板，测试效率较低，尤其阵列基板边缘的显示区检测效率更低，且测试垫与光学检测模块的信号容易发生干涉的技术问题，需要改进。

发明内容

本发明提供一种阵列基板的测试装置及其测试方法，能够解决测试阵列基板的常规方法通过使用测试垫将电信号施加至阵列基板上，采用液晶层判断出光情况，来确定待检测阵列基板是否欠佳，若待检测阵列基板的像素被点亮，采用光电传感器对待检测阵列基板光学性能进行测试，每次仅能测试一排待检测阵列基板，测试效率较低，尤其阵列基板边缘的显示区检测效率更低，且测试边缘显示区时，测试垫与光学检测模块的信号容易发生干涉的技术问题。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

本发明实施例提供一种阵列基板的测试装置，包括：

承载台，设置有多个测试区，每个所述测试区包括两排阵列基板。

测试垫，对应设置于每一所述阵列基板的一侧，并与相对应的所述阵列基板的测试端口连接，在同一所述测试区中，所述测试垫位于相邻两排所述阵列基板的相背的两侧。

加电模块，与所述测试垫电性连接以通入驱动信号。

检测模块，包括液晶层和位于所述液晶层上的光电传感器，所述液晶层用于测试所述阵列基板的电场，所述光电传感器用于采集和评估所述液晶层出射光线的强度。