[发明专利]一种阵列基板的测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种阵列基板的测试装置，其特征在于，包括：

承载台，设置有多个测试区，每个所述测试区包括两排阵列基板；

测试垫，对应设置于每一所述阵列基板的一侧，并与相对应的所述阵列基板的测试端口连接，在同一所述测试区中，所述测试垫位于相邻两排所述阵列基板的相背的两侧；

加电模块，与所述测试垫电性连接以通入驱动信号；

检测模块，包括液晶层和位于所述液晶层上的光电传感器，所述液晶层用于测试所述阵列基板的电场，所述光电传感器用于采集和评估所述液晶层出射光线的强度；

其中，对同一所述测试区内的所有测试垫同时通入所述驱动信号，且所述检测模块对位于同一所述测试区内的两排阵列基板的显示区逐行或列进行检测。

2.根据权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，在同一所述测试区中相邻两排阵列基板之间未设置所述测试垫。

3.根据权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，所述加电模块包括信号发射器和与所述信号发射器电性连接的所述功能信号线，所述功能信号线与所述测试垫电性连接；

其中，所述测试垫包括第一组测试垫和第二组测试垫，所述功能信号线包括第一子功能信号线和第二子功能信号线，所述第一组测试垫与所述第一子功能信号线电性连接，所述第二组测试垫与所述第二子功能信号线电性连接；

所述第一组测试垫与所述第一子功能信号线位于所述测试区一侧，所述第二组测试垫与所述第二子功能信号线位于所述测试区另一侧。

4.根据权利要求3所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，每个所述阵列基板至少对应设置有两个或两个以上的测试垫。

5.根据权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括移动设备，所述加电模块和所述检测模块设置在所述移动设备上，可同步沿所述移动设备上往返运动，完成对所述测试区中的阵列基板的所有显示区进行检测，其中，所述显示区的面积小于所述检测模块的面积。

6.根据权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，所述阵列基板的背部还设置有背光源，所述背光源和所述检测模块分别位于所述阵列基板两侧。

7.根据权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，所述阵列基板与所述检测模块之间设置有所述背光源，所述阵列基板在远离所述背光源一侧设置有反射板。

8.根据权利要求1所述的阵列基板的测试装置，其特征在于，所述阵列基板为FFS和IPS显示模式的阵列基板。

9.一种阵列基板的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤S10，采用如权利要求1至8所述的阵列基板的测试装置对所述阵列基板的电场和出射光线的强度进行检测；

步骤S20，对同一测试区内的所有测试垫同时通入驱动信号，且检测模块对位于同一所述测试区内的两排阵列基板的显示区逐行或列进行检测，直至所述阵列基板的所有显示区的出射光线的强度完成采集为止，其中，沿所述阵列基板的长边方向上扫描检测，对相邻两排阵列基板的相对一侧的边缘所述显示区同时扫描检测；

步骤S30，对采集出射光的强度进行评估分析。

10.根据权利要求9所述的阵列基板的测试方法，其特征在于，所述承载台至少有一个及一个以上所述测试区，采用步骤S20和步骤S30先后对所有测试区进行检测和分析。