[发明专利]制造半导体器件的方法在审
申请号: | 202110209530.7 | 申请日: | 2021-02-25 |
公开(公告)号: | CN113764431A | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 许珉荣 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | H01L27/1157 | 分类号: | H01L27/1157;H01L27/11582;H01L27/11524;H01L27/11556 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 张美芹;刘久亮 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本技术提供一种制造半导体器件的方法。所述方法包括:形成初始源极结构;在所述初始源极结构上形成层叠结构,所述层叠结构包括第一材料层和第二材料层;形成贯通所述层叠结构的初始存储层;形成穿过所述层叠结构的沟槽;通过对所述第二材料层的被所述沟槽暴露的部分进行表面处理来形成第一缓冲图案;以及形成覆盖所述第一缓冲图案的保护层。 | ||
搜索关键词: | 制造 半导体器件 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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