[发明专利]制造半导体器件的方法在审

专利信息
申请号: 202110209530.7 申请日: 2021-02-25
公开(公告)号: CN113764431A 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 许珉荣 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: H01L27/1157 分类号: H01L27/1157;H01L27/11582;H01L27/11524;H01L27/11556
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 张美芹;刘久亮
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本技术提供一种制造半导体器件的方法。所述方法包括:形成初始源极结构;在所述初始源极结构上形成层叠结构,所述层叠结构包括第一材料层和第二材料层;形成贯通所述层叠结构的初始存储层;形成穿过所述层叠结构的沟槽;通过对所述第二材料层的被所述沟槽暴露的部分进行表面处理来形成第一缓冲图案;以及形成覆盖所述第一缓冲图案的保护层。
搜索关键词: 制造 半导体器件 方法
【主权项】:
暂无信息
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