[发明专利]一种减少GaAs基发光二极管手动键合过程中裂纹的工艺方法在审

专利信息
申请号: 202110187714.8 申请日: 2021-02-18
公开(公告)号: CN114975741A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 徐晓强;程昌辉;王梦雪;闫宝华;王成新 申请(专利权)人: 山东浪潮华光光电子股份有限公司
主分类号: H01L33/62 分类号: H01L33/62;H01L21/67
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 赵龙群
地址: 261061 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种减少GaAs基发光二极管手动键合过程中裂纹的工艺方法,包括如下步骤:(1)晶片准备;(2)晶片放置:将GaAs基LED晶片的第二反射镜层朝上平放在耐高温袋中,然后在GaAs基LED晶片第二反射镜层的边缘放置楔子,再将步骤(1)中制备好的硅片的的金属粘附层朝下放置在GaAs基LED晶片上,使得楔子将GaAs基LED晶片与硅片间隔开,并且将硅片的切边与GaAs基LED晶片的切边对齐;(3)抽真空、贴片;(4)压片;(5)高温键合;(6)管芯结构制作。本发明提供的方法可以大幅度减少或杜绝键合过程中裂纹/裂片的产生,适用于所有LED晶片的键合制程,且成本低廉,质量稳定。
搜索关键词: 一种 减少 gaas 发光二极管 手动 过程 裂纹 工艺 方法
【主权项】:
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