[发明专利]具有应力调节的MEMS传感器芯片封装结构与方法有效

专利信息
申请号: 202110136443.3 申请日: 2021-02-01
公开(公告)号: CN112938888B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: 裘安萍;施芹;赵阳;夏国明 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 汪清
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种具有应力调节的MEMS传感器封装结构与方法,封装结构在MEMS传感器芯片衬底底部粘接有过渡片,过渡片底部镀有金层,金层图像关于MEMS传感器芯片结构中心对称;过渡片与管壳底部之间设有金锡焊层;芯片盖板上粘接有应力调节片,用于补偿MEMS工艺产生的残余应力,将MEMS传感器结构上的应力调节至合理值,使得MEMS传感器输出的温度系数在零附近,采用金锡焊工艺将过渡片粘接在管壳内,减小了封装应力对MEMS传感器敏感结构的影响。
搜索关键词: 具有 应力 调节 mems 传感器 芯片 封装 结构 方法
【主权项】:
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