[发明专利]一种面向白玻璃盖板表面微弱缺陷的检测与测量方法有效
| 申请号： | 202110068116.9 | 申请日： | 2021-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN112750119B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 姜锐;苏虎 | 申请（专利权）人： | 上海海事大学;中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/762;G06V10/764;G06V10/774 |
| 代理公司： | 上海互顺专利代理事务所(普通合伙) 31332 | 代理人： | 成秋丽 |
| 地址： | 201306 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出面向白玻璃盖板表面微弱缺陷的检测与测量方法，包括：采集玻璃盖板图像，计算盖板图像的显著性图；对显著性图进行快速二值化；利用密度聚类方法对属于同一缺陷的非连续前景像素进行聚类；提取前景目标的高维形态及密度特征；构建缺陷的正负样本库，正样本库里包含了所有划痕可能的形态，负样本库里包含了实际生产环境下可能出现的绝大多数脏污、灰尘形态；利用样本库中的样本，提取特征向量，采用支持向量机算法作为分类器，进行训练，并在验证集上进行测试。本发明提供面向白玻璃盖板表面微弱缺陷的检测与测量方法，可有效检测白玻璃盖板表面微弱缺陷，降低或避免现有方法在检测微弱缺陷时产生的漏检。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 玻璃 盖板 表面 微弱 缺陷 检测 测量方法 | ||
【主权项】：
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