[发明专利]闪存磨损方法、装置、可读存储介质及电子设备有效

专利信息
申请号: 202110034314.3 申请日: 2021-01-12
公开(公告)号: CN112817521B 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 孙成思;孙日欣;童海涛 申请(专利权)人: 成都佰维存储科技有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F12/02;G11C16/34
代理公司: 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人: 欧阳燕明
地址: 610000 四川省成都市高新*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了闪存磨损方法、装置、可读存储介质及电子设备,在每一闪存块写入数据的时候,对每一闪存块中每一页写入对应的预设固定值,在现有技术中通常往闪存块的每一页中写入随机数据,而本发明将每一页写入对应的预设固定值,能够使每一页处于对应的固定电平值,从而将所有的存储单元写入至一个固定的状态,能够增加闪存的磨损速率,缩短闪存测试前的磨损时间;其中闪存磨损时关闭LDPC编码功能和校正功能,保证后续往闪存写入预设固定数据时不受编码和校正的干扰,从而保证能够往每一页写入固定数值,加速磨损闪存。
搜索关键词: 闪存 磨损 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备
【主权项】:
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