[发明专利]蚀刻包括薄表面层的基板以改善所述层的厚度均匀性的方法在审

专利信息
申请号: 202080086896.3 申请日: 2020-11-27
公开(公告)号: CN114830302A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: L·维拉沃克斯;S·卡顿;O·罗斯 申请(专利权)人: 索泰克公司
主分类号: H01L21/306 分类号: H01L21/306
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 师玮;党晓林
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种对基板(1)的薄层(11)的主表面(1a)进行蚀刻的方法,该方法包括:将基板(1)浸入蚀刻槽中,以便将主表面(1a)暴露于蚀刻剂,基板(1)按照如下方式相对于槽(100)定向,以补偿薄层(11)的厚度非均匀性:‑当基板(1)被引入到槽(100)中时,主表面(1a)按照引入速度从初始引入点(PII)逐渐浸入到最终引入点(PFI),并且‑当基板(1)从槽(100)退出时,主表面(1a)按照退出速度从初始退出点(PIS)逐渐显现到最终退出点(PFS),该方法的特征在于:‑按照根据初始引入点(PII)与最终引入点(PFI)之间的第一非均匀剖面蚀刻主表面(1a)的方式来选择引入速度,和/或‑按照根据初始退出点(PIS)与最终退出点(PFS)之间的第二非均匀剖面蚀刻主表面(1a)的方式来选择退出速度。
搜索关键词: 蚀刻 包括 表面 改善 厚度 均匀 方法
【主权项】:
暂无信息
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