[发明专利]测量装置和测距装置在审
申请号: | 202080055841.6 | 申请日: | 2020-08-04 |
公开(公告)号: | CN114207472A | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 横山恭二 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10;G01C3/06 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了一种根据本公开的测量装置(1)。测量装置(1)包括多个光检测器和识别单元(111)。多个检测器布置在第一基板(P1)上,并且当接收从光源发射并由测量对象反射的光时输出信号。识别单元(111)布置在与第一基板(P1)不同的第二基板(P3)上,并且使用机器学习模型基于多个光检测器输出的信号识别关于到测量对象的距离的信息。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 测距 | ||
【主权项】:
暂无信息
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