[发明专利]测量装置和测距装置

说明书

提供了一种根据本公开的测量装置(1)。测量装置(1)包括多个光检测器和识别单元(111)。多个检测器布置在第一基板(P1)上，并且当接收从光源发射并由测量对象反射的光时输出信号。识别单元(111)布置在与第一基板(P1)不同的第二基板(P3)上，并且使用机器学习模型基于多个光检测器输出的信号识别关于到测量对象的距离的信息。

技术领域

本公开涉及测量装置和测距装置。

背景技术

作为使用光来测量到测量对象的距离的测距方法之一，已知称为直接飞行时间(ToF)方法的测距方法。在通过直接ToF方法的测距处理中，基于从指示由光源发射光的发射定时到由光接收元件接收由测量对象反射的光的光接收定时的时间来获得到测量对象的距离。

更具体地，测量从发射定时到光接收元件接收光的光接收定时的时间，并将指示所测量的时间的时间信息存储在存储器中。该测量被多次执行，并且基于通过多次测量获得并存储在存储器中的多条时间信息来创建直方图。基于直方图获得到测量对象的距离。

引文列表

专利文献

专利文献1：JP 2016-176750 A

发明内容

技术问题

然而，在上述传统技术中，存在需要各种处理来生成直方图、确定直方图的阈值和检测时间信息，以及获得到测量对象的距离，并且需要处理时间的问题。此外，还存在费时费力调整各种处理所需的参数的问题。此外，由于距离的计算精度取决于存储时间信息的存储器的存储量、直方图的类(箱)的数量等，因此存在难以提高精度的问题。

因此，本公开提出了一种能够减少处理时间和用于参数调整的时间和精力并提高精度的测量装置和测距装置。

问题的解决方案

根据本公开，提供了一种测量装置。该测量装置包括多个光接收元件和识别单元。多个光接收元件布置在第一基板上，并且当接收从光源发射并由测量对象反射的光时输出信号。识别单元布置在与第一基板不同的第二基板上，并且通过使用机器学习模型基于多个光接收元件的输出信号识别关于到测量对象的距离的信息。

发明的有利效果

根据本公开，可以减少处理时间和用于参数调整的时间和精力，并提高精度。顺便提及，这里描述的效果不一定受到限制，并且可以是本公开中描述的任何效果。

附图说明

图1是示意性地示出通过直接ToF方法测距的示例的图。

图2是示出基于光接收单元接收光的时间的直方图的示例的图。

图3是用于描述根据本公开的实施例的测距方法的概要的图。

图4是示出根据本公开的实施例的测距系统的配置的示例的框图。

图5是示出根据本公开的实施例的测量装置的配置的示例的框图。

图6是示出根据本公开的实施例的测量装置的层叠结构的示例的示意图。

图7是用于描述神经网络的概要的图。

图8是用于描述机器学习模型的示例的图。

图9是用于描述机器学习模型的示例的图。

图10是用于描述识别单元对时间信息的识别的图。

图11是示出根据本公开的实施例的控制装置的配置示例的框图。

图12是用于描述由测距确定单元确定的测距位置的图。

图13是用于描述由测距确定单元确定的测距位置的图。