[发明专利]测量装置和测距装置在审
| 申请号： | 202080055841.6 | 申请日： | 2020-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN114207472A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 横山恭二 | 申请（专利权）人： | 索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10;G01C3/06 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量 装置 测距 | ||
1.一种测量装置，包括：
多个光接收元件，布置在第一基板上，并且所述多个光接收元件当接收从光源发射并由测量对象反射的光时输出信号；以及
识别单元，布置在与所述第一基板不同的第二基板上，并且所述识别单元通过使用机器学习模型基于所述多个光接收元件的输出信号识别关于到所述测量对象的距离的信息。
2.根据权利要求1所述的测量装置，进一步包括：
时间测量单元，基于所述多个光接收元件的所述输出信号，测量从所述光源发光的光发射定时到所述光接收元件接收所述光的光接收定时的时间，并获取测量值，其中
所述识别单元通过使用以与所述多个光接收元件各自对应的多个测量值作为输入的所述机器学习模型识别关于所述距离的所述信息。
3.根据权利要求2所述的测量装置，其中，当所述光源发光一次时，所述识别单元基于由所述时间测量单元测量的所述测量值识别关于所述距离的信息。
4.根据权利要求2所述的测量装置，其中，当所述光源发光多次时，所述识别单元基于所述时间测量单元响应于每次发光所测量的所述测量值识别关于所述距离的信息。
5.根据权利要求4所述的测量装置，其中，在判定出识别了关于所述距离的信息的情况下，所述识别单元结束关于所述距离的信息的识别。
6.根据权利要求5所述的测量装置，其中，所述识别单元通过使用神经网络作为所述机器学习模型识别关于所述距离的信息。
7.根据权利要求6所述的测量装置，其中，所述第一基板和所述第二基板之间的连接是铜电极之间的连接。
8.一种测距装置，包括：
光源，向测量对象照射光；
多个光接收元件，布置在第一基板上，并且所述多个光接收元件当接收由所述测量对象反射的光时输出信号；以及
识别单元，布置在与所述第一基板不同的第二基板上，并且所述识别单元通过使用机器学习模型基于所述多个光接收元件的输出信号识别关于到所述测量对象的距离的信息。
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