[发明专利]X射线检查装置以及X射线检查方法有效

专利信息
申请号: 202080045901.6 申请日: 2020-12-15
公开(公告)号: CN114026411B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 七吕真;惠木守 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046;G01N23/044
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 邓毅;黄纶伟
地址: 日本国京*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: X射线检查装置具有:X射线源,其产生向检查对象照射的X射线;X射线照相机,其拍摄基于从所述X射线源向所述检查对象照射的X射线的X射线图像;以及保持部,其保持所述检查对象,通过所述X射线源、所述X射线照相机以及所述保持部中的任意方作为旋转部进行旋转运动,一边变更拍摄方向一边拍摄所述X射线图像,取得所述检查对象的三维图像并进行检查,所述旋转部在多个场所依次进行旋转运动,并且进行用于从一个旋转运动的旋转结束点向下一个旋转运动的旋转开始点移动的移动运动,所述旋转部不具有在所述旋转运动和所述移动运动的途中停止的停止区间。
搜索关键词: 射线 检查 装置 以及 方法
【主权项】:
暂无信息
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