[发明专利]检查装置、包装体制造装置及包装体制造方法在审
| 申请号： | 202080036849.8 | 申请日： | 2020-05-01 |
| 公开（公告）号： | CN113874717A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 大谷刚将;大山刚;坂井田宪彦 | 申请（专利权）人： | CKD株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/083;G01N23/18 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 | 代理人： | 刘卓然 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种可进行更高精度检查的检查装置等。依据X射线穿透图像算出表示利用X射线照射装置的X射线的照射输出的照射输出检测值，并以照射输出检测值成为既定值的方式控制利用X射线照射装置的照射输出。照射输出检测值依据X射线穿透图像中位于将照射源与X射线线传感器以最短距离连接的路径上的收容区域2x中除了片剂区域5x以外的区域及/或凸缘部区域9x的亮度所算出。因此，依据X射线穿透图像中最容易变亮的区域的亮度算出照射输出检测值，以此最容易变亮的区域的照射输出检测值成为既定值的方式，即以此最容易变亮的区域充分成为高亮度的方式控制X射线照射装置。因此，将利用X射线线传感器的检测输出的范围更扩大，能进行更高精度的检查。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 包装 体制 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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