[实用新型]高可靠性半导体器件有效
申请号: | 202020823440.8 | 申请日: | 2020-05-18 |
公开(公告)号: | CN211957635U | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 唐兴军;王亚 | 申请(专利权)人: | 苏州兴锝电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/49 | 分类号: | H01L23/49;H01L23/24;H01L23/367 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 王健 |
地址: | 215010 江苏省苏州市高*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开一种高可靠性半导体器件,包括二极管芯片、第一引线条和第二引线条,所述第一引线条的上端和下端分别为支撑部和第一引脚部,所述第一引线条的支撑部和第一引脚部之间具有一第一折弯部;所述第一引线条的支撑部的边缘开有至少2个第一通孔,此第一通孔的边缘具有与二极管芯片相背的第一翻边部;所述支撑部与第一折弯部相背的一端具有一向上折弯的上侧板,所述焊接部与第二折弯部相背的一端具有一向下折弯的下侧板,所述二极管芯片位于上侧板和下侧板之间。本实用新型高可靠性半导体器件有利于芯片热量的扩散,减少了热阻,改善了器件的散热性能。 | ||
搜索关键词: | 可靠性 半导体器件 | ||
【主权项】:
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