[发明专利]瑕疵检测方法及装置、计算机设备和存储介质有效
| 申请号： | 202011639446.0 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112669299B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 茅心悦 | 申请（专利权）人： | 上海智臻智能网络科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/80;G06V10/764;G06V10/82;G06T7/73;G06N3/08;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张振军 |
| 地址： | 201803 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种瑕疵检测方法及装置、计算机设备和存储介质，其中，所述方法包括：获取目标图片；对目标图片进行特征识别，得到所述目标图片的特征信息；根据所述目标图片的特征信息，得到瑕疵检测结果；其中，所述对目标图片进行特征识别，得到所述目标图片的特征信息，包括：根据所述目标图片获取多张中间图片；对每一中间图片进行特征识别，得到每一中间图片的特征信息；对每一中间图片进行关联度分析，得到该中间图片与所述目标图片的其他中间图片之间的关联系数；结合所述多张中间图片的特征信息和关联系数，得到所述目标图片的特征信息。通过该方法，能够在保证检测效果的同时，解决检测中断、信息丢失的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 瑕疵 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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