[发明专利]一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法在审
| 申请号： | 202011609332.1 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112735505A | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 李求洋;张蓬鹤;徐英辉;熊素琴;陈思禹;袁翔宇;杨巍;郭建宁;秦程林;王雅涛 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 夏德政 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法，包括：包括：上位机，通过数字通道与测试平台系统相连接，用于根据测试需求产生与所述测试需求对应的波形激励样式和波形激励样式的调用顺序命令；用于获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态；测试平台系统，与被测存储器芯片相连接，用于根据所述波形激励样式的调用顺序命令和波形激励样式产生激励波形以驱动所述被测存储器芯片。本发明能够提供多个通道，通过更换测量夹具设计不同的测试子板，实现多种存储器芯片的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 存储器 芯片 进行 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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