[发明专利]一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法

说明书

本发明公开了一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法，包括：包括：上位机，通过数字通道与测试平台系统相连接，用于根据测试需求产生与所述测试需求对应的波形激励样式和波形激励样式的调用顺序命令；用于获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态；测试平台系统，与被测存储器芯片相连接，用于根据所述波形激励样式的调用顺序命令和波形激励样式产生激励波形以驱动所述被测存储器芯片。本发明能够提供多个通道，通过更换测量夹具设计不同的测试子板，实现多种存储器芯片的测试。

技术领域

本发明涉及存储器测试技术领域，并且更具体地，涉及一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法。

背景技术

要实现大容量存储器的全参数测试十分耗费时间，并且在实际测试中，传统测试系统及方法较难实现对存储器的各个单元实现完全覆盖，或者覆盖性不够全面。

存储芯片的测试与普通数字逻辑电路的测试从原理上和算法上都有着很大的不同，按照普通数字逻辑电路的测试方法，不可能找到无限支撑测试向量存储的办法，无法满足存储器的测试需求。另外，存储器的故障形式是多种多样的，有的故障是单一的存储单元的失效，比如锁定为0，锁定为1等，这种故障形式通过对存储单元的读写操作就可以测试发现；有的故障形式是相邻存储单元之间的相互影响，有的故障甚至是不稳定的，这些故障形式依靠简单的读写操作是无法发现的，需要采用各种复杂的存储器测试算法才能够检测到。目前，常用的存储器测试算法有棋盘格算法、March算法、对角线算法、移动对角线算法、行列跳步算法、走步算法等。每一种算法所针对的存储器单元的一些特定失效形式。要实现大容量存储器的测试，以及存储器测试算法，需要采用特殊的存储器测试图形发生的方式解决这一问题。

发明内容

本发明提出一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法，以解决如何对存储器芯片进行测试的问题。

为了解决上述问题，根据本发明的一个方面，提供了一种用于对存储器芯片进行测试的系统，所述系统包括：

上位机，通过数字通道与测试平台系统相连接，用于根据测试需求产生与所述测试需求对应的波形激励样式和波形激励样式的调用顺序命令；用于获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存储器输出的波形数据和预设的期望数据进行比较，获取测试结果，并根据所述测试结果确定所述被测存储器芯片的运行状态；

测试平台系统，与被测存储器芯片相连接，用于根据所述波形激励样式的调用顺序命令和波形激励样式产生激励波形以驱动所述被测存储器芯片。

优选地，其中所述测试平台系统通过连接器与设置于测试子板上的被测存储器芯片相连接；其中，所述测试子板上设置有不同类型的测量夹具，对于不同类型的存储器芯片，通过更换相应的测量夹具实现测试需求的覆盖。

优选地，其中所述测试平台系统通过2个100pin的连接器与被测存储器芯片通信，200pin的连接器包括地、电源和数字通道部分，根据被测存储器芯片的测试需求通过调用相应的资源完成测试的覆盖，整个连接器中能够调用的数字通道一共96个，每个数字通道能够被配置成输入、输出或双向的IO资源，分配到被测存储器芯片的引脚。

优选地，其中所述上位机根据接收的用户按照编写的每个周期输出激励的状态产生一个能够使底层固件识别的波形文件，并把所述波形文件发给底层固件，以使得底层固件的执行单元根据所述波形文件产生对应的执行程序，并经过底层的翻译处理后，得到激励波形测试数据流，并按照时钟周期逐条输出到被测存储器芯片的激励引脚，完成测试激励波形的输出。

优选地，其中所述上位机还包括：

用户接口模块，包括：窗口管理子模块、配置信息管理子模块和显示管理子模块，用于对窗口信息、配置信息和显示信息进行管理；