[发明专利]一种高性能硅基锗探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011552811.4 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN112736158A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 张轶锦;曹溪源;武爱民 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L31/108 分类号: H01L31/108;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙) 31233 代理人: 魏峯;黄志达
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种高性能硅基锗探测器及其制备方法,由下至上包括作为探测器制作初始材料包括硅材料(1)、SiO2层(2)和锗层(3)的衬底、作为肖特基接触的金属电极(4)和覆盖于锗层(3)和金属电极(4)上的石墨烯薄膜(5)。本发明通过光子晶体结构设计,使~200nm的超薄锗层结构在1310nm入射光处实现了超高吸收,量子效率不受限于吸收层的厚度;制作工艺无需掺杂,大大简化了工艺成本及制造成本,具有良好的市场应用前景。
搜索关键词: 一种 性能 硅基锗 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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