[发明专利]一种3D 封装叠层芯片互连用Cu3Sn泡沫铜复合接头快速制备方法在审

专利信息
申请号: 202011504681.7 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN112490133A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 孙凤莲;李文鹏 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明通过将泡沫铜作为骨架,锡合金作为填充材料,通过外加超声的作用,利用超声震动摩擦和超声空化效应产生热量,快速获得由原位生成的Cu3Sn与反应后剩余的泡沫铜复合而成的微焊点。泡沫铜可以减少铜原子的扩散距离,从而加快Cu3Sn的生成,并且可以使微焊点的厚度将不再受铜原子扩散速度影响,Cu3Sn与泡沫铜复合可以克服纯Cu3Sn的脆性,提高微焊点的导电、导热和综合力学性能。
搜索关键词: 一种 封装 芯片 互连 cu3sn 泡沫 复合 接头 快速 制备 方法
【主权项】:
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