[发明专利]缺陷检测及相关模型的训练方法、电子设备和存储装置在审
| 申请号： | 202011480731.2 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN112489037A | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 陈茂东;李翼;彭程;程大龙 | 申请（专利权）人： | 科大讯飞华南人工智能研究院（广州）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/174;G06T7/187;G06K9/46;G06K9/62;G06T9/00 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何倚雯 |
| 地址： | 510000 广东省广州市南沙区丰泽*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种缺陷检测及相关模型的训练方法、电子设备和存储装置，其中缺陷检测方法包括：获取待测物件的多个图像；对多个图像进行特征提取，得到包含多个图像的特征信息的融合特征图；利用融合特征图，得到关于待测物件缺陷的检测结果；其中，待测物件的任一部分对应于多个图像的同一区域，且多个图像满足以下至少一个条件：至少两个图像是在不同波长的光源照射下拍摄得到的，至少两个图像是在摄像机的光轴与光源的入射方向呈不同夹角状态下拍摄的。上述方案，能够提高缺陷检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 相关 模型 训练 方法 电子设备 存储 装置 | ||
【主权项】：
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