[发明专利]热障涂层裂纹的几何信息提取方法有效
| 申请号： | 202011429047.1 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112581433B | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 韩越兴;刘宇虹;王冰;钱权 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/194;G06T5/00 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 何文欣 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种热障涂层裂纹的几何信息提取方法，首先对图像进行预处理；然后进行图像分割，提取出片层中孔隙，使目标片层的完整并消除干扰噪声；再将二值化后的图像与该结果做差，得到仅有裂纹的目标图像，再将像素点缺失的裂纹断线进行连接，去除片层图像噪声黑点，对连接后的裂纹线条骨架提取；然后根据已得到裂纹骨架，寻找片层图像中裂纹像素点，从像素点相邻两侧延伸寻找裂纹线条，对裂纹进行检测；随后根据检测到的裂纹线条，采用随机上色方法对裂纹进行描绘与标注，从而完成对每条裂纹的长度计算。本发明方法能实现对热障涂层裂纹及其他各种线条的检测、描绘、统计和长度计算，提高研究速度，降低研究成本，促进学科的研究和发展。 | ||
| 搜索关键词： | 热障 涂层 裂纹 几何 信息 提取 方法 | ||
【主权项】：
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