[发明专利]一种用于集成电路芯片自毁结构在审
申请号: | 202011427882.1 | 申请日: | 2020-12-07 |
公开(公告)号: | CN112542405A | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 陈圆圆 | 申请(专利权)人: | 合肥高地创意科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 230041 安徽省合肥市包河*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于集成电路芯片自毁结构,涉及芯片处理装置技术领域。本发明专利包括芯片主体和延伸线脚,芯片主体的一端固定有多个延伸线脚,还包括线路自毁结构,线路自毁结构的内侧固定有电路板导线,电路板导线的一端固定有导线卡箍,芯片主体通过延伸线脚与导线卡箍的滑动连接与线路自毁结构固定。本发明专利通过线路自毁结构的设计,使得装置便于完成对电路和芯片之间的配装进行快速分离断开,达到线路自毁保护的目的,且通过物理压入自毁机构的设计,使得装置在使用过程中便于通过升降推导配合往复接触破损结构完成对芯片表面的多段式快速冲击,完成对芯片的快速冲击的物理损坏。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 集成电路 芯片 自毁 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造