[发明专利]一种判断位错滑移类型的方法有效
| 申请号： | 202011370476.6 | 申请日： | 2020-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN112611661B | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李阁平;张英东;袁福森;韩福洲;阿里.穆罕穆德;郭文斌;任杰;刘承泽;顾恒飞;佟敏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01N3/42 | 分类号： | G01N3/42;G01N3/06;G01N23/20;G01N23/20058;G01N23/203;G01N23/20008;G01N23/2251 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人： | 张晨 |
| 地址： | 110015 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种判断滑移类型的方法，具体为：先制备EBSD块状样品，通过EBSD标定晶体取向，并使用不同载荷的维氏硬度压头对EBSD测定的晶粒进行原位压缩；由于压缩变形后该取向晶粒就会发生变形，进而在晶粒的表面形成滑移线；对要测定区域的不同晶粒进行硬度测试，结合压痕的几何应力分析，计算不同滑移开动时的Schmid因子值；然后通过滑移线和三维晶体结构进行对比，结合位错滑移线的传播方向，所计算的不同滑移系的Schmid因子值以及滑移线之间相互交叉的角度，初步判断滑移类型；最后在扫描电镜上，通过倾转扫描样品台，记录不同角度倾转时滑移台阶的宽度变化，结合EBSD测定的晶体取向，获得理论上不同滑移类型的台阶宽度变化，然后与实验结果相对比，综合判断出滑移类型。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 判断 滑移 类型 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院金属研究所，未经中国科学院金属研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011370476.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
