[发明专利]在深孔中形成薄膜层的方法及半导体器件的制备方法有效

专利信息
申请号: 202011284960.7 申请日: 2020-11-17
公开(公告)号: CN112420731B 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 陈德建;张帆;刘松 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/1157 分类号: H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤;高翠花
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供一种在深孔中形成薄膜层的方法,所述方法包括:提供形成有所述深孔的基底并将所述基底置入沉积室;采用原子层沉积工艺向沉积室内通入反应源,持续若干时间;停止向所述沉积室内通入反应源,并密闭所述沉积室若干时间,以在所述深孔侧壁形成薄膜层。本发明的优点在于,在停止向沉积室内通入反应源后,密闭所述沉积室若干时间,使得未参与反应的反应源停留在沉积室内。在所述沉积室被密闭后,所述沉积室内形成高压环境,则在压力的作用下,未发生反应的反应源会朝向深孔的底部方向流动,从而在所述深孔底部未发生沉积的区域沉积,且所述反应源能够均匀地分布,进而能够在所述深孔中形成厚度均匀、高质量的薄膜。
搜索关键词: 深孔中 形成 薄膜 方法 半导体器件 制备
【主权项】:
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