[发明专利]一种12英寸硅片包装工艺有效
申请号: | 202011221911.9 | 申请日: | 2020-11-05 |
公开(公告)号: | CN112373840B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 谢艳;杨春雪;刘秒;武卫;刘建伟;刘园;孙晨光;王彦君;祝斌;刘姣龙;裴坤羽;常雪岩;袁祥龙;张宏杰;吕莹;徐荣清 | 申请(专利权)人: | 天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体材料有限公司 |
主分类号: | B65B51/10 | 分类号: | B65B51/10 |
代理公司: | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 栾志超 |
地址: | 300384 天津市滨海*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种12英寸硅片包装工艺,包括S1:将12英寸硅片装入片盒中,再将片盒装入内包装袋中;S2:通过真空包装装置抽取所述内包装袋内的气体,设置真空压强为55kpa‑65kpa;S3:在所述内包装袋封口处进行热封;S4:将热封后的所述内包装袋封口处进行冷却;S5:用胶带固定所述内包装袋封口;S6:将冷却好的所述内包装袋装入外包装袋中,通过所述真空包装装置抽取外包装袋内的气体,真空压强为55kpa‑65kpa;所述外包装袋封口处进行热封;将热封好的所述外包装袋进行冷却;用胶带固定所述外包装袋封口。本发明的有益效果是解决了在运输过程中会因碰撞摩擦导致包装袋破损,密封性差,导致运输过程中硅片表面颗粒增长量高、表面金属含量高的问题,提高硅片的质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 12 英寸 硅片 包装 工艺 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体材料有限公司,未经天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体材料有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011221911.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。